

Группа компаний
ТЕХНОСТЕК
Сертификационные испытания и спецпроверки

Холдинг Техностек в кооперации со специализированными организациями-лабораториями и аккредитованными испытательными центрами контура Корпорации, готово осуществлять поставки электроники и ЭКБ с проведением сопутствующего объема квалификационных, периодическиех граничных, отбраковочных, сертификационных испытания электрорадиоизделий отечественного (ЭРИ ОП) и иностранного производства (ЭРИ ОП), а так же организовать специальные проверки и спец.исследования на выявления демаскирующих признаков ЭУНПИТ.
Для предприятий-лабораторий и испытательных центров силами группы Техностек могут быть проведены работы по проектированию , изготовлению и поставки испытательного оборудования и комплексов на основе:
Камеры тепла-холода (КТХ), Камеры термоциклирования (КТЦ), Стенды электротермотренировки (ЭТТ) и испытаний на безотказность, программно-аппаратные комплексы функционального и параметрического контроля, генераторы, анализаторы и пр.
-
Специальные проверки технических средств
-
Специальные исследования
-
Входной контроль (ВК) электрорадиоизделий;
-
Функционально-параметрический контроль;
-
Дополнительные (отбраковочные) испытания;
-
Диагностический неразрушающий контроль (ДНК) электрорадиоизделий;
-
Выборочный разрушающий физический анализ (РФА) электрорадиоизделий;
-
Сертификационные (определительные) испытания электрорадиоизделий;
-
Измерение и контроль параметров ЭКБ;
-
Информационно-техническая поддержка;
-
Анализ отказов и дефектов электрорадиоизделий;
-
Спецпроверки и специсследования
-
Функционально-параметрический контроль
-
Измерение и контроль параметров ЭКБ
-
Визуальный контроль
-
Проверка внешнего вида.
-
Проверка внешнего вида упаковок
-
Визуальный контроль кристаллов и оснований полупроводниковых микросхем
-
Визуальный контроль гибридных микросхем
-
-
Воздействие механических факторов
-
Испытание на виброустойчивость
-
Испытание на вибропрочность (длительное и кратковременное)
-
Испытание на ударную прочность
-
Испытание на ударную устойчивость
-
Испытание на воздействие одиночных ударов
-
-
Прочность выводов и соединений
-
Испытание выводов на воздействие растягивающей силы
-
Испытание ленточных выводов бескорпусных микросхем на воздействие отрывного усилия
-
Испытание сварных соединений на прочность. Проверка на свариваемость
-
Испытание на гибких проволочных и ленточных выводов на изгиб
-
Испытание гибких лепестковых выводов на изгиб
-
Испытание гибких проволочных выводов на скручивание
-
Испытание резьбовых выводов на воздействие крутящего момента
-
Испытание прочности крепления кристалла на сдвиг
-
-
Воздействие климатических факторов
-
Испытание на воздействие повышенной рабочей температуры среды
-
Испытание на воздействие повышенной температуры среды при транспортировании и хранении
-
Испытание на воздействие повышенной предельной температуры среды
-
Испытание на воздействие пониженной температуры среды при эксплуатации
-
Испытание на воздействие пониженной рабочей температуры среды
-
Испытание на воздействие повышенной температуры среды при транспортировании и хранении
-
Испытание на воздействие пониженной предельной температуры среды
-
Испытание на воздействие изменений температуры среды
-
Испытание на воздействие атмосферных конденсированных осадков( инея и росы)
-
Испытание на воздействие инея и росы
-
Испытание на воздействие повышенной влажности воздуха (длительное и ускоренное )
-
-
Требования к конструкции
-
Испытание на герметичность
-
Испытание на способность к пайке
-
Испытание на теплостойкость при пайке
-
Проверка соответствия габаритным, установочным и присоединительным размерам
-
Проверка внешнего вида
-
Проверка массы
-
Контроль качества маркировки
-
Испытание упаковки на прочность
-
Испытание на пожарную безопасность
-
Испытание на воздействие очищающих растворителей
-
Испытание на стойкость к растворению металлизации
-
-
Безотказность, сохраняемость. электротермотренировка
-
Электротермотренировка
-
Определение оптимального времени проведения электротермотренировки на этапе разработки и освоения микросхем
-
Определение оптимального времени проведения электротермотренировки при серийном производстве микросхем
-
Кратковременные испытания на безотказность
-
Длительные испытания на безотказность
-
Испытания на сохраняемость
-
Испытание на воздействие повышенной температуры среды при эксплуатации
-
-
Внешние воздействующие факторы космического пространства
-
Испытания на стойкость к накопленной дозе
-
Испытания на воздействие ТЗЧ
-